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在半導(dǎo)體制造中，晶圓表面缺陷與焊點(diǎn)質(zhì)量檢測是保障芯片良率與可靠性的核心環(huán)節(jié)。前者聚焦于納米級表面完整性，后者則關(guān)乎封裝結(jié)構(gòu)的電學(xué)與機(jī)械穩(wěn)定性。兩者通過光學(xué)、聲學(xué)及人工智能技術(shù)的深度融合，構(gòu)建起從晶圓制造到封裝測試的全流程質(zhì)量防線。一、晶圓表...
硬化涂層膜厚儀是一款快速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。它可以配備一臺計算機(jī)控制的XY工作臺，使其快速、方便和準(zhǔn)確地描繪樣品的厚度和光學(xué)特性圖。工作原理：本產(chǎn)品采用電磁感應(yīng)法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。硬化涂層膜厚儀的符合...
去膠工藝是微加工過程中一個重要的過程，在電子束曝光，紫外曝光等微納米加工工藝后，都要對光刻膠進(jìn)行去除或打底膜處理。光刻膠是否去除干凈對樣片是否有損傷等問題，將直接影響后續(xù)工藝的順利完成。等離子去膠性能出色的組件和軟件，可對工藝參數(shù)進(jìn)行精確控制。它的工藝監(jiān)測和數(shù)據(jù)采集軟件可實(shí)現(xiàn)嚴(yán)格的質(zhì)量控制。該技術(shù)已經(jīng)成功的應(yīng)用于功率晶體管、模擬器件、傳感器、光學(xué)器件、光電、EMS/MOEMS、生物器件、LED等領(lǐng)域。產(chǎn)品具有去膠快速*；對樣片無損傷；操作簡單安全；設(shè)計緊湊美觀；產(chǎn)品性價比高等...
紅外激光測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表，它常用來連續(xù)或抽樣測量鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料等產(chǎn)品的厚度。目前國內(nèi)廠家普遍采用人工測量和控制的方法來管控板材的厚度，這存在著測量精度差的、成材率低等弊端，因此采用專業(yè)的測厚儀來能有效地改善測控環(huán)境，提高生產(chǎn)效率、提高成材率和產(chǎn)品質(zhì)量。目前本產(chǎn)品主要應(yīng)用于鋰電池正、負(fù)極涂布、鋰電池正、負(fù)極輥壓的厚度測量，以實(shí)際情況為例，使用時，可放置激光測厚儀于銀壓后和收卷前，在具有極片張力波動和銀壓機(jī)振動的復(fù)雜工況下測量設(shè)備使用浮...
電容式位移傳感器具有一般非接觸式儀器所共有的無磨擦、無損磨和無惰性特點(diǎn)外，還具有信噪比大，靈敏度高，零漂小，頻響寬，非線性小，精度穩(wěn)定性好，抗電磁干擾能力強(qiáng)和使用操作方便等優(yōu)點(diǎn)。在國內(nèi)研究所，高等院校、工廠和軍工部門得到廣泛應(yīng)用，成為科研、教學(xué)和生產(chǎn)中一種*的測試儀器。應(yīng)用范圍：主要用于解決下述各種測量問題：壓電微位移、振動臺，電子顯微鏡微調(diào)，天文望遠(yuǎn)鏡鏡片微調(diào)，精密微位移測量等。性能：電容式位移傳感器的電容器極板多為金屬材料，極板間襯物多為無機(jī)材料，如空氣、玻璃、陶瓷、石英...
折射率測量儀是利用周圍光線進(jìn)行測量，不用電池和任何電源，它適合在實(shí)驗室或野外使用，取一滴樣品滴到棱鏡中，并讀取數(shù)值就可以了。他的手柄具有橡皮涂層，可與測量溶液*隔離，可避免使用者自身熱量的散發(fā)使測量值出現(xiàn)誤差。我們所有的折射計產(chǎn)品都具有自動溫度補(bǔ)償功能：在10°C-30°C時，如自動溫度補(bǔ)償設(shè)定為20°C，那么他會自動調(diào)整溫度，也可以利用蒸餾水重新校準(zhǔn)，產(chǎn)品裝配專用塑料盒子和校準(zhǔn)起子。測量原理：通過測量棱鏡的折射角確定光學(xué)材料的折射率，講反射鏡式平行光管安裝在氣動軸承上，利用...