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在半導(dǎo)體制造、光學(xué)薄膜研發(fā)及精密涂層檢測等領(lǐng)域，薄膜厚度與光學(xué)參數(shù)的精準(zhǔn)測量是保障產(chǎn)品質(zhì)量與性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。Thetametrisis薄膜厚度測量儀（如FR-Scanner系列）憑借其高度集成的光學(xué)模塊設(shè)計，成為這一領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備——其光學(xué)...
膜厚測量儀是一種用于測量薄膜厚度的儀器，其工作原理基于光學(xué)吸收和反射原理。它可以用于測量各種材料的膜厚，比如金屬涂層、塑料膜、涂料、陶瓷等。下面我們來詳細(xì)介紹一下膜厚測量儀的工作原理和特點。它的工作原理：膜厚測量的原理基于材料吸收和反射光線的原理，從而通過對材料所反射、透過的光線進(jìn)行測量，來計算出材料的膜厚。因此，本儀器是一種利用光學(xué)技術(shù)進(jìn)行測量的儀器。具體說來，膜厚測量儀通過將一束光源射到待測材料上，并測量其反射的光線強(qiáng)度，從而計算出該材料的膜厚。在測量過程中，本儀器會通過...
電容式位移傳感器是一種非接觸電容式原理的精密測量儀器，具有一般非接觸式儀器所共有的無磨擦、無損磨特點外，還具有信噪比大，靈敏度高，零漂小，頻響寬，非線性小，精度穩(wěn)定性好，抗電磁干擾能力強(qiáng)和使用操作方便等優(yōu)點。它是基于平板電容原理。電容的兩極分別是傳感器和與之相對的被測物體。如果有穩(wěn)定交流電通過傳感器，輸出交流電的電壓會與傳感器到被測物體之間的距離成正比關(guān)系，從而可以通過測量電壓的變化得到距離信息。電容式位移傳感器的測量原理特性：采用電容式測量原理，需要潔凈和干燥的環(huán)境，否則傳...
應(yīng)力測量儀采用成像式光彈原理，直接測量光延遲，可以快速給出高分辨率的高精度測量結(jié)果?？蓪ΣＡА⒕w、塑料等透明物體等內(nèi)在殘余應(yīng)力進(jìn)行測試，測試精度可達(dá)設(shè)備功能與原理介紹：量測主板在制程中，因板彎板翹所造成的變形量，并用以驗證是否對BGA錫點產(chǎn)生相對影響。使用者可透過專用的軟體中的最大主應(yīng)力、最小主應(yīng)力、剪應(yīng)力、對應(yīng)角度，diagonal等，專有計算功能來判定所量測到的訊號數(shù)據(jù)是否符合國際規(guī)范，是否合乎標(biāo)準(zhǔn)？以作為服務(wù)器，筆記本計算器、PDA、及手持電話等3C產(chǎn)品出口質(zhì)量的重要...
光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統(tǒng)。它可以埃級分辨率對表面進(jìn)行高分辨率測量。該系統(tǒng)支持相位和垂直掃描干涉測量，兩者都是傳統(tǒng)的相干掃描干涉技術(shù)（CSI）。本產(chǎn)品進(jìn)一步擴(kuò)展了這些技術(shù)，它采用SMARTAcquire為新手用戶簡化了程序設(shè)置，并且采用z-stitching干涉技術(shù)可以對大臺階高度進(jìn)行高速測量。光學(xué)輪廓儀測量技術(shù)的優(yōu)勢在于測量的垂直分辨率與物鏡的數(shù)值孔徑無關(guān)，因而能夠在大視野范圍內(nèi)進(jìn)行高分辨率測量。測量區(qū)域可以通過將多個視場拼接為同一個測量結(jié)果而進(jìn)一步增加。...
防震臺是一款很有名的防振系統(tǒng)。在納米技術(shù)的時代，極之微細(xì)的振動已對搜索結(jié)果造成極大的影響，必須改善測量環(huán)境，以發(fā)揮儀器的較佳效能，達(dá)到較佳成果。Nanotechnology正在改變，由高層次的研究波及各個行業(yè)的基本生產(chǎn)，要有效地發(fā)展納米技術(shù)，消除振動尤為重要！目前，防震臺的應(yīng)用范圍：適合用千對振動敏感的測量和試驗機(jī)、激光器、刻度盤、光學(xué)和電子以及醫(yī)療設(shè)備等。新型隔振臺LTH用千振動或者承載載荷可能會干擾試驗或者機(jī)器設(shè)備的應(yīng)用場合。防震臺的行業(yè)分析：當(dāng)今科學(xué)界的科學(xué)實驗需要越來...